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漆膜測(cè)厚儀

簡(jiǎn)要描述:漆膜測(cè)厚儀MiniTest 2100或稱涂鍍層測(cè)厚儀、覆層測(cè)厚儀等等,可以配備各種EPK(Elektrophysik)探頭,實(shí)現(xiàn)不同的測(cè)量功能。

  • 產(chǎn)品型號(hào):MiniTest 2100
  • 廠商性質(zhì):經(jīng)銷商
  • 更新時(shí)間:2024-07-08
  • 訪  問(wèn)  量:1439
產(chǎn)品詳情

漆膜測(cè)厚儀/覆層測(cè)厚儀MiniTest 2100探頭分類:

F型探頭:測(cè)量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測(cè)量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時(shí)具備F型和N性探頭的功能

漆膜測(cè)厚儀/覆層測(cè)厚儀MiniTest 2100探頭參數(shù):

探頭

量程

低端
分辨率

誤差

zui小曲率半徑
(/)

zui小測(cè)量
區(qū)域直徑

zui小基
體厚度

探頭尺寸



應(yīng)

 

 

 

 

 

 

 

F05

0-500μm

0.1μm

±(1%±0.7μm)

1/5mm

3mm

0.2mm

φ15x62mm

F1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/6mm

5mm

0.5mm

φ8x8x170mm

F3

0-3000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

0.5mm

φ15x62mm

F10

0-10mm

5μm

±(1%±10μm)

5/16mm

20mm

1mm

φ25x46mm

F20

0-20mm

10μm

±(1%±10μm)

10/30mm

40mm

2mm

φ40x66mm

F50

0-50mm

10μm

±(3%±50μm)

50/200mm

300mm

2mm

φ45x70mm



 

 

 

FN1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm

FN1.6P

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面

30mm

F0.5mm/N50μm

φ21x89mm

FN2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

F0.5mm/N50μm

φ15x62mm




 

 

 

 

 

 

 

 

 

N02

0-200μm

0.1μm

±(1%±0.5μm)

1/10mm

2mm

50μm

φ16x70mm

N.08Cr

0-80μm

0.1μm

±(1%±1μm)

2.5mm

2mm

100μm

φ15x62mm

N1.6

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

2mm

50μm

φ15x62mm

N1.6/90

0-1600μm

0.1μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N2

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

1.5/10mm

5mm

50μm

φ15x62mm

N2/90

0-2000μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面/10mm

5mm

50μm

φ13x13x170mm

N10

0-10mm

10μm

±(1%±25μm)

25/100mm

50mm

50μm

φ60x50mm

N20

0-20mm

10μm

±(1%±50μm)

25/100mm

70mm

50μm

φ65x75mm

N100

0-100mm

100μm

±(1%±0.3mm)

100mm/平面

200mm

50μm

φ126x155mm

CN02

10-200μm

0.2μm

±(1%±1μm)

平面

7mm

無(wú)限制

φ17x80mm

注意:

F1.6/90F2/90N1.6/90N2/90為直角探頭,用于管內(nèi)測(cè)量。
N.08Cr適合銅上鉻,FN2也適合銅上鉻。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層

/覆層測(cè)厚儀MiniTest 2100技術(shù)參數(shù):

MINITEST 存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測(cè)試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

每個(gè)應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對(duì)組內(nèi)數(shù)據(jù)自動(dòng)統(tǒng)計(jì)計(jì)算,并可設(shè)寬容度極限值)

1

可用各自的日期和時(shí)間標(biāo)識(shí)特性的組數(shù)

1

數(shù)據(jù)總量

10000

MINITEST統(tǒng)計(jì)計(jì)算功能

讀數(shù)的六種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar

讀數(shù)的八種統(tǒng)計(jì)值x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

組統(tǒng)計(jì)值六種x,s,n,max,min,kvar

 

組統(tǒng)計(jì)值八種x,s,n,max,min,kvar,Cp,Cpk

 

存儲(chǔ)顯示每一個(gè)應(yīng)用行下的所有組內(nèi)數(shù)據(jù)

 

分組打印以上顯示和存儲(chǔ)的數(shù)據(jù)和統(tǒng)計(jì)值

 

顯示并打印測(cè)量值、打印的日期和時(shí)間

其他功能

設(shè)置極限值

 

連續(xù)測(cè)量模式快速測(cè)量,通過(guò)模擬柱識(shí)別zui大zui小值

 

連續(xù)測(cè)量模式中測(cè)量穩(wěn)定后顯示讀數(shù)

 

連續(xù)測(cè)量模式中顯示zui小值

 

相關(guān)/覆層測(cè)厚儀MiniTest 2100信息請(qǐng)。

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